三菱電機 外観検査ソフトウェア 「MELSOFT VIXIO」 推奨PC

AIの専門知識やプログラミングスキルがなくても、フローチャート形式で直感的にタスクを設定可能

※掲載製品は参考価格となりますので、最新価格については都度お問い合わせください。

製品紹介

MELSOFT VIXIOは、製造現場における目視検査の自動化と品質の均一化を実現する、PCベースのAI外観検査ソフトウェアです。カメラなどの外部機器と連携し、AI技術を用いて製品のキズ、割れ、コゲなどの異常を検出します。

1. 主な特長と機能
プログラミングレス(ノーコード)での構築
AIの専門知識やプログラミングスキルがなくても、フローチャート形式で直感的にタスクを設定可能です。1つのツール内で「AIモデルの生成」「検査の実行」「モニタ画面の作成」までを一貫して行えます。

FA現場に特化した高精度AI
製造現場では不良品の画像データを大量に集めることが困難です。そのため、少量の不良画像や正常画像のみからでも学習可能な、FA(ファクトリーオートメーション)業界に最適なAIアルゴリズムを搭載しています。

シーケンサ連携による強力なトレーサビリティ
三菱電機製シーケンサの製造データと、検査時の撮像画像、検査日時、AIの判定結果を自動的に紐づけて一括保存できます。後からの検索や、グラフを用いたトレンド分析も容易です。

柔軟な機器連携
カメラインターフェースの標準規格である「GenICam」に準拠しており、メーカーの垣根を越えて多様なカメラとの接続が可能です。既存設備の画像ファイルをFTP通信で取得して検査することもできます。

2. ビジネス上の導入メリット
省人化と工数削減: AIを用いた一次スクリーニングにより、人間が確認すべき対象を絞り込むことで、検査にかかる作業工数を大幅に削減します。

検査品質の安定化: 検査員の熟練度への依存や、世代交代に伴うスキルのばらつきを防ぎ、属人化を排除した均質な検査体制を維持できます。

段階的なAI導入: 既存のルールベース検査とAIを併用できるため、システムを完全に置き換えることなく、現状の検査精度を底上げするアプローチが可能です。

仕様・スペック

■三菱電機 外観検査ソフトウェア MELSOFT VIXIO 推奨PC

Applied Cervo-FA Type-T14
for MELSOFT VIXIO 開発ライセンス 推奨FAPC

<基本仕様>
■CPU:Intel Core i7-14700 プロセッサー
20コア(P8+E12)/28スレッド
■チップセット:Intel Q670 (産業用M/B)
■メモリ:32GB(16GB×2)DDR5-5600
4スロット/max 128GB
■OS: Windows11 Pro 64bit
■SSD:SSD 1TB(高耐久 24h365D)
■LAN:2ポート intel-I226LM 2.5GbE LAN
■GPU:NVIDIA RTX PRO 2000 Blackwell
20GB-GDDR6(miniDP×4)
■電源:650W (80PLUS GOLD認証)
■キーボード・マウス 付属 有線USB接続
■サイズ:約 W217×D495×H430mm
■標準保証:ハードウェア3年間 (センドバック)

※ 本製品には MELSOFT VIXIO の料金は含まれておりませんので別途ご相談ください。

用途・実績例

製造業や研究開発部門におけるDX(デジタルトランスフォーメーション)推進の一環として、主に「運用プロセスの改善(ユースケース)」と「具体的な製品の異常検知(対象物)」の2つの観点で活用されています。

1. 運用上のユースケース(検査フローの改善)
単に人をAIに置き換えるだけでなく、現状の課題に合わせて以下のようなハイブリッドな運用が推奨・実践されています。

AIによる一次スクリーニング(工数削減と品質平準化)
これまで全数を人が目視で仕分けていた工程に対し、AIで一次判定を行います。AIがヒートマップで「異常の可能性がある」と可視化した対象のみを品質保証担当者が最終確認することで、検査のばらつきを排除し、作業工数を大幅に削減します。

人とAIのダブルチェック(見落とし低減と負担軽減)
1名の検査担当者による全数目視は負担が大きくヒューマンエラーの原因となります。そこにAI判定を組み込みダブルチェック体制にすることで、見落としを防ぎます。また、判定結果と画像が全数保存されるため、確実なトレーサビリティ確保にも繋がります。

既存ルールベース検査との併用(検査精度向上)
従来の画像処理(ルールベース)ではしきい値の設定が難しい、あるいは誤検出が多く発生していた「曖昧なキズや汚れ」の判定にのみAI検査を追加し、システム全体の検査精度を底上げします。

2. 具体的な対象物の用途事例
カメラ画像から特徴を学習するため、部品のキズ、割れ、異物混入、位置ズレなど、目視で行われている幅広い外観検査に適用可能です。公表されている電子・半導体分野などの具体的な適用事例は以下の通りです。

半導体・基板関連

基板のシリコン割れ検出

基板の異物検出

基板部品の浮き検査

リフター時のウェハ傾き外観検査

電子部品・機構部品

電子部品用ケースの外観検査

コンデンサ異物検査

ベアリング(軸受)外観検査

樹脂製フランジ面の傷検査

エンボステープ圧着外観検査

お問い合わせ

お問い合わせ

DXソリューション導入のご相談他、サーバー や NAS製品についてもお気軽にお問い合わせください。
弊社のプロフェッショナルなスタッフがご相談にお答えいたします。